(ガイガーフレックスRAD-UB・自動検索マイコン処理機能付)
X線から出る強力な一次X線を試料に照射し、この試料から出る二次X線
を分光して目的の元素からの蛍光X線の強さを測定することによって自動
的に定量分析が可能となる。